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内容简介：本书介绍X射线物理学基础、X射线衍射方向和衍射强度、多晶体X射线衍射分析等基本理论知识，在此基础上介绍当前科学研究中经常使用的各种X射线技术，包括利用X射线衍射技术分析材料的物相、残余应力、晶粒尺寸、位错密度、织构等，以及利用X射线光电子能谱分析材料表面元素种类、含量。此外，本书还介绍了近年来基于电子计算机断层扫描技术发展起来的三维Ⅹ射线显微镜分析方法。