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X射线粉末衍射技术—测量与分析基础—fundamentals of measurement and analysis

著者王春建编著
ISBN9787122457202
分类号O722 数理科学和化学
学科理学
版次第1版
出版社化学工业出版社
丛书名—
出版年2024
价格¥58.00
页码184页
类型 📄 纸质书
核心评分9.5/10
读者对象—
主题词x射线摄影测量—粉末衍射法,X射线衍射分析—粉末衍射法
内容简介：本书内容主要分为五部分：X射线粉末衍射技术的发展历程和功能应用；X射线衍射仪器、光路配置、样品制备和测量过程；物相分析的基本原理、分析过程、注意事项、结果评价和部分实例；X射线衍射仪器的维护保养和辐射安全；X射线衍射技术的学习方法论。
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