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专利视角下的半导体量检测关键技术

著者国家知识产权局专利局专利审查协作江苏中心组织编写
ISBN9787513094962
分类号TN3 电子技术、通信技术
学科工学
版次第1版
出版社知识产权出版社有限责任公司
丛书名—
出版年2024
价格¥99.00
页码218页
类型 📄 纸质书
核心评分8.1/10
读者对象—
主题词半导体技术—专利—分析方法
内容简介：本书开展“双线联动”和“双维定位”特色分析，重点研究了半导体产业关键核心技术的专利布局脉络和重点申请人布局情况，研究内容紧扣当下产业急需和未来发展趋势，不仅可以为现有科研工作提供有力的支撑，而且为未来的科研工作提供了有效的科研情报信息。
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