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数字集成电路测试理论、方法与实践

著者李华伟[等]编著
ISBN9787302662037
分类号TN431.207 电子技术、通信技术
学科工学
版次第1版
出版社清华大学出版社
丛书名集成电路科学与技术丛书
出版年2024
价格¥79.00
页码10,258页
类型 📄 纸质书
核心评分10.0/10
读者对象—
主题词数字集成电路—测试技术
内容简介：本书从数字集成电路测试在数字芯片设计阶段发挥的重要作用出发，介绍了数字电路测试的完整技术体系，内容突出基础理论和关键技术，并以西门子EDA工具Tessent的设计脚本为例，介绍了这些技术在测试综合EDA工具中的使用流程。
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