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集成电路封装与测试—微课版
著者
韩振花,冯泽虎主编
ISBN
9787115629647
分类号
TN405.94,TN407 电子技术、通信技术
学科
工学
版次
第1版
出版社
人民邮电出版社
丛书名
—
出版年
2024
价格
¥56.00
页码
191页
类型
📄 纸质书
核心评分
8.9
/10
读者对象
—
主题词
集成电路—封装工艺—高等职业教育—教材,集成电路—测试—高等职业教育—教材
内容简介:
本书较为全面地介绍集成电路封装与测试技术知识。本书共8个项目,包括认识集成电路封装与测试、封装工艺流程、气密性封装与非气密性封装、典型封装技术、芯片测试工艺、搭建集成电路测试平台、74HC138芯片测试和LM358芯片测试,每个项目均设置了1+X技能训练任务,帮助读者巩固所学的内容。
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