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基于扫描探针显微技术的二维滑移铁电材料极化特性研究
著者
潘二,刘富才著
ISBN
9787577019444
分类号
TN16 电子技术、通信技术
学科
工学
版次
第1版
出版社
电子科技大学出版社
丛书名
—
出版年
2026.02
价格
¥74.00
页码
100页
类型
📄 纸质书
核心评分
9.2
/10
读者对象
—
主题词
—
内容简介:
本书内容涵盖二维材料的制备与器件构筑、原子力显微镜及其衍生技术的应用、极化分布与畴结构的精细表征、界面耦合机制的物理解析等多个方面,形成了滑移铁电研究的系统性认识。本书不仅有助于加深对滑移铁电材料基本物理图像的理解,也为相关实验方法的构建与器件性能的提升提供了理论与技术指导。
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