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宽禁带功率半导体器件特性测试

著者(美)王飞(Fred Wang)，(美)张哲宇，(美)爱德华·A. 琼斯(Edward A. Jones)著,张龙龙[等]译
ISBN9787111805854
分类号TN303 电子技术、通信技术
学科工学
版次第1版
出版社机械工业出版社
丛书名半导体与集成电路关键技术丛书
出版年2026
价格¥129.00
页码10,294页
类型 📄 纸质书
核心评分9.5/10
读者对象—
主题词禁带—功率半导体器件—测试技术
内容简介：本书涵盖了以下内容：脉冲静态特性测试、结电容特性测试、动态特性测试的基本原理、动态特性测试栅极驱动单元设计、布局设计与寄生参数优化、双脉冲测试保护设计、动态特性的测量与数据处理、串扰分析与抑制、三相系统的影响，以及拓扑设计注意事项。
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