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内容简介：本书围绕图的若干子结构计数问题展开，系统研究树、单圈图与边不相交双圈图在多种参数约束下的子树计数理论与方法。第1章介绍图的主流拓扑指标以及限定参数下子图结构的研究背景与意义，为全书奠定理论基础。第2章至第4章聚焦树结构，分别探讨在最大度约束、直径约束以及多叶距粒度约束下的子树生成函数构造与高效计数算法，涵盖理论推导、算法设计与实验验证，深入揭示参数约束对子树结构分布的影响机制。第5章将研究拓展至单圈图与无公共边双圈图，系统建立多叶距粒度条件下的子树计数算法，进一步完善复杂图类中子结构计数的理论体系。