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X射线分析方法

著者巫瑞智,王振强编著
ISBN9787030776976
中图分类O657.39 化学
学科分类理学
版次第1版
出版社科学出版社
丛书名—
出版年2024
页码207页
价格¥68.00
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8.6/10
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📝 内容简介
本书介绍X射线物理学基础、X射线衍射方向和衍射强度、多晶体X射线衍射分析等基本理论知识,在此基础上介绍当前科学研究中经常使用的各种X射线技术,包括利用X射线衍射技术分析材料的物相、残余应力、晶粒尺寸、位错密度、织构等,以及利用X射线光电子能谱分析材料表面元素种类、含量。此外,本书还介绍了近年来基于电子计算机断层扫描技术发展起来的三维Ⅹ射线显微镜分析方法。
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