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X射线分析方法
| 著者 | 巫瑞智,王振强编著 |
| ISBN | 9787030776976 |
| 中图分类 | O657.39 化学 |
| 学科分类 | 理学 |
| 版次 | 第1版 |
| 出版社 | 科学出版社 |
| 丛书名 | — |
| 出版年 | 2024 |
| 页码 | 207页 |
| 价格 | ¥68.00 |
| 可推荐册数 | 请登录后查看 |
| 核心评分 |
8.6/10
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📝 内容简介
本书介绍X射线物理学基础、X射线衍射方向和衍射强度、多晶体X射线衍射分析等基本理论知识,在此基础上介绍当前科学研究中经常使用的各种X射线技术,包括利用X射线衍射技术分析材料的物相、残余应力、晶粒尺寸、位错密度、织构等,以及利用X射线光电子能谱分析材料表面元素种类、含量。此外,本书还介绍了近年来基于电子计算机断层扫描技术发展起来的三维Ⅹ射线显微镜分析方法。
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