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片上系统测试设计与优化

著者(瑞典)埃里克·拉森著,孙仁杰译
ISBN9787030769183
中图分类TN407 电子技术、通信技术
学科分类工学
版次第1版
出版社科学出版社
丛书名—
出版年2024
页码10,314页
价格¥88.00
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核心评分
8.8/10
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📝 内容简介
本书讨论了片上系统(SoC)测试的相关问题,包括建模以及片上系统测试解决方案的设计和优化。全书分为三部分,在概述经典测试方法的基础上,介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难,并介绍了拉森和他的团队为克服上述困难所做的研究工作。
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