📖 书目详情
宽禁带功率半导体封装:材料、元件和可靠性
| 著者 | 菅沼克昭主编 |
| ISBN | 9787111763178 |
| 中图分类 | TN303 电子技术、通信技术 |
| 学科分类 | 工学 |
| 版次 | 第1版 |
| 出版社 | 机械工业出版社 |
| 丛书名 | 半导体与集成电路关键技术丛书 |
| 出版年 | 2024 |
| 页码 | 203页 |
| 价格 | ¥119.00 |
| 可推荐册数 | 请登录后查看 |
| 核心评分 |
8.2/10
|
📝 内容简介
本书是国外学者们对宽禁带半导体封装技术和趋势的及时总结。首先,对宽禁带功率器件的发展趋势做了总结和预演判断,讲述宽禁带功率半导体的基本原理和特性,包括其独特的物理和化学属性,以及它们在极端环境下的潜在优势。接着介绍封装材料的选择和特性,分别就互连技术和衬底展开论述,同时,介绍了磁性材料,并对不同材料结构的热性能,以及冷却技术和散热器设计进行了介绍。然后,考虑到功率器件的质量必须通过各种测试和可靠性验证方法来评估,还介绍了瞬态热测试的原理和方法,同时阐述了各种可靠性测试的机理和选择动机。最后,就计算机辅助工程模拟方法列举了许多经典案例。通过本书的学习,读者可以建立起宽禁带功率半导体器件封装的全面概念,为进一步深入研究打下基础。
🏛️ 本馆馆藏信息
本馆暂无该书的馆藏记录,可在线借购