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数字集成电路测试及可测性设计

📝 内容简介

本书从数字集成电路测试与可测性设计的基本概念出发，介绍了数字集成电路测试的概念、原理及方法。主要内容包括：数字集成电路测试基础、测试向量生成、可测性设计与扫描测试、边界扫描测试、内建自测试、存储器测试，以及可测性设计案例及分析。