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宽禁带功率半导体器件特性测试
| 著者 | (美)王飞(Fred Wang)，(美)张哲宇，(美)爱德华·A. 琼斯(Edward A. Jones)著,张龙龙[等]译 |
| ISBN | 9787111805854 |
| 中图分类 | TN303 电子技术、通信技术 |
| 学科分类 | 工学 |
| 版次 | 第1版 |
| 出版社 | 机械工业出版社 |
| 丛书名 | 半导体与集成电路关键技术丛书 |
| 出版年 | 2026 |
| 页码 | 10,294页 |
| 价格 | ¥129.00 |
| 可推荐册数 | 请登录后查看 |
| 核心评分 |
8.3/10
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📝 内容简介
本书涵盖了以下内容：脉冲静态特性测试、结电容特性测试、动态特性测试的基本原理、动态特性测试栅极驱动单元设计、布局设计与寄生参数优化、双脉冲测试保护设计、动态特性的测量与数据处理、串扰分析与抑制、三相系统的影响，以及拓扑设计注意事项。
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