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LED芯片制造及可靠性测试技术
| 著者 | 伊晓燕主编 |
| ISBN | 9787111801634 |
| 中图分类 | TN383.05,TN430.5 电子技术、通信技术 |
| 学科分类 | 工学 |
| 版次 | 第1版 |
| 出版社 | 机械工业出版社 |
| 丛书名 | 半导体与集成电路关键技术丛书 |
| 出版年 | 2026 |
| 页码 | 12,551页 |
| 价格 | ¥188.00 |
| 可推荐册数 | 请登录后查看 |
| 核心评分 |
8.2/10
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📝 内容简介
本书对LED芯片制造及可靠性测试技术进行了全面且系统的深入剖析,旨在为读者提供清晰、详尽的学习和实践指南。书中不仅涵盖了LED芯片制造的基本原理、工艺流程,还深入探讨了可靠性测试的关键技术和方法。具体内容包括LED基本原理、参数与特性,LED材料制备方法与检测技术,AlGaInP黄红光LED外延芯片设计与制造技术,InGaN蓝绿光LED外延芯片设计与制造技术,InGaN基长波长LED,AlGaN紫外LED外延芯片设计与制造技术,LED芯片新结构与新技术,LED器件封装与测试技术,LED器件热特性,以及LED器件可靠性及加速测试模型。
🏛️ 本馆馆藏信息
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