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半导体器件建模与测试实验教程—基于华大九天器件建模与验证平台XModel
| 著者 | 杜江锋,石艳玲,朱能勇编著 |
| ISBN | 9787121493713 |
| 中图分类 | TN303 电子技术、通信技术 |
| 学科分类 | 工学 |
| 版次 | 第1版 |
| 出版社 | 电子工业出版社 |
| 丛书名 | 集成电路系列丛书:电子设计自动化 |
| 出版年 | 2025 |
| 页码 | 213页 |
| 价格 | ¥58.00 |
| 可推荐册数 | 请登录后查看 |
| 核心评分 |
9.6/10
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📝 内容简介
本教程在简要介绍MOSFET场效应晶体管器件结构和工作原理的基础上,全面叙述了MOSFET基本电学特性和二阶效应;介绍了MOSFET器件模型及建模测试结构和方案设计;给出了MOSFETBSIM模型参数提取流程;介绍了半导体器件SPICE模型建模平台EmpyreanXModel,深入介绍了XModel的基本功能和界面;介绍了MOSFET器件电学特性测试平台、测试模式和测试流程;分别介绍了MOSFET器件电学特性如CV、转移特性和输出特性的测量方法;深入介绍了MOSFET模型参数提取的实验步骤和使用流程;介绍了MOSFET射频模型参数提取方法和使用流程;并介绍了GaN器件模型参数提取方法和使用流程。
🏛️ 本馆馆藏信息
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